產(chǎn)品分類
SuperViewW3D光學(xué)輪廓儀白光干涉技術(shù)可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-08-29
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:248
中圖儀器SuperViewW光學(xué)表面粗糙度輪廓度一體機(jī)可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-08-21
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:250
SuperViewW3D光學(xué)形貌表面輪廓儀支持方形、圓形、環(huán)形和螺旋形式的自動(dòng)拼接測量功能,配合影像導(dǎo)航功能,可自定義測量區(qū)域,支持?jǐn)?shù)千張圖像的無縫拼接測量。
更新時(shí)間:2025-08-15
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:380
SuperViewW國產(chǎn)光學(xué)輪廓白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
更新時(shí)間:2025-08-07
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:395
SuperViewW精密光學(xué)3D輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
更新時(shí)間:2025-07-30
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:372
SuperViewW高精度光學(xué)輪廓儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。
更新時(shí)間:2025-07-24
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:421
關(guān)注公眾號(hào),了解最新動(dòng)態(tài)

Copyright © 2025 深圳市中圖儀器股份有限公司版權(quán)所有
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
備案號(hào):粵ICP備12000520號(hào)
三坐標(biāo)測量儀
影像儀
閃測儀
激光測量儀
顯微測量儀
公司簡介
企業(yè)文化
榮譽(yù)資質(zhì)
聯(lián)系我們