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要想操作好便攜式粗糙度儀，少不了以下步驟！
2025-06-12 便攜式粗糙度儀是一種測(cè)量物體表面粗糙度的便攜式儀器。它基于機(jī)械和電子技術(shù)，通過測(cè)量頭、傳感器、放大器和顯示器等組件的協(xié)同工作，實(shí)現(xiàn)對(duì)表面粗糙度的準(zhǔn)確測(cè)量和評(píng)估。具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍寬、操作簡(jiǎn)便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點(diǎn)，該儀器在測(cè)量時(shí)，首先將測(cè)量頭放置在待測(cè)表面上。測(cè)量頭的底部有一個(gè)非常敏感的傳感器，可以檢測(cè)到表面的微小起伏。當(dāng)測(cè)量頭滑動(dòng)在表面上時(shí)，傳感器會(huì)記錄下起伏的高度和間距。這些起伏數(shù)據(jù)會(huì)被傳送到放大器中進(jìn)行信號(hào)放大和處理。經(jīng)過放大和電平轉(zhuǎn)換的信號(hào)進(jìn)入數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，...
共聚焦顯微鏡—賦能光學(xué)元件精密質(zhì)控
2025-06-04 在光學(xué)精密加工領(lǐng)域，微納結(jié)構(gòu)元件的三維形貌檢測(cè)是保障器件性能的重要環(huán)節(jié)。以微透鏡陣列、衍射光學(xué)元件為代表的精密光學(xué)元件，其特征尺寸已突破亞微米量級(jí)，對(duì)表面輪廓精度與結(jié)構(gòu)面形誤差的檢測(cè)要求達(dá)到納米級(jí)分辨率。若加工過程中產(chǎn)生的邊緣塌陷、周期畸變或面形偏差未能精準(zhǔn)識(shí)別，當(dāng)此類缺陷元件被集成至光通信模塊或成像系統(tǒng)時(shí)，將導(dǎo)致光束傳播相位失配、成像質(zhì)量劣化等問題，甚至造成整機(jī)系統(tǒng)的功能性失效。中圖儀器共聚焦顯微鏡是一款多功能的光學(xué)三維測(cè)量?jī)x器，可實(shí)現(xiàn)微納尺度的表面三維形貌檢測(cè)，助力各行業(yè)...
一鍵式快速尺寸測(cè)量?jī)x的測(cè)量步驟及注意事項(xiàng)
2025-05-27 一鍵式快速尺寸測(cè)量?jī)x是一種高效、便捷的測(cè)量設(shè)備，采用新型圖像影像測(cè)量技術(shù)，通過大視野大景深、高數(shù)值孔徑、低畸變雙遠(yuǎn)心鏡頭，將被測(cè)物體的影像輪廓縮小后傳遞到高分辨率CMOS相機(jī)上做數(shù)字化處理。隨后，由具備強(qiáng)大計(jì)算能力的后臺(tái)繪圖測(cè)量軟件按照預(yù)先設(shè)置好的編程指令，快速抓取產(chǎn)品輪廓，并與相機(jī)微小像素點(diǎn)形成的標(biāo)尺進(jìn)行比對(duì)，從而計(jì)算出產(chǎn)品尺寸及尺寸公差。一鍵式快速尺寸測(cè)量?jī)x的測(cè)量操作步驟：1、放置工件將待測(cè)工件平穩(wěn)放置在測(cè)量臺(tái)上，確保工件表面與測(cè)量臺(tái)平行（避免傾斜）。對(duì)于小型工件，可使用...
一鍵式快速尺寸測(cè)量?jī)x其有著怎樣的特點(diǎn)呢？
2025-05-25 一鍵式快速尺寸測(cè)量?jī)x是一種高效、便捷的測(cè)量設(shè)備，采用新型圖像影像測(cè)量技術(shù)，通過大視野大景深、高數(shù)值孔徑、低畸變雙遠(yuǎn)心鏡頭，將被測(cè)物體的影像輪廓縮小后傳遞到高分辨率CMOS相機(jī)上做數(shù)字化處理。隨后，由具備強(qiáng)大計(jì)算能力的后臺(tái)繪圖測(cè)量軟件按照預(yù)先設(shè)置好的編程指令，快速抓取產(chǎn)品輪廓，并與相機(jī)微小像素點(diǎn)形成的標(biāo)尺進(jìn)行比對(duì)，從而計(jì)算出產(chǎn)品尺寸及尺寸公差。一鍵式快速尺寸測(cè)量?jī)x的主要特點(diǎn)：1、快速測(cè)量一鍵操作：只需放置工件、按下啟動(dòng)鍵，儀器即可自動(dòng)完成測(cè)量并輸出結(jié)果，無需復(fù)雜手動(dòng)調(diào)整。秒級(jí)響...
wafer晶圓幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)：厚度(THK)翹曲度(Warp)彎曲度(Bow)等數(shù)據(jù)測(cè)量
2025-05-23 晶圓是半導(dǎo)體制造的核心基材，所有集成電路（IC）均構(gòu)建于晶圓之上，其質(zhì)量直接決定芯片性能、功耗和可靠性，是摩爾定律持續(xù)推進(jìn)的物質(zhì)基礎(chǔ)。其中晶圓的厚度（THK）、翹曲度（Warp）和彎曲度（Bow）是直接影響工藝穩(wěn)定性和芯片良率的關(guān)鍵參數(shù)：1、厚度（THK）是工藝兼容性的基礎(chǔ)，需通過精密切割與研磨實(shí)現(xiàn)全局均勻性。2、翹曲度（Warp）反映晶圓整體應(yīng)力分布，直接影響光刻和工藝穩(wěn)定性，需通過退火優(yōu)化和應(yīng)力平衡技術(shù)控制。3、彎曲度（Bow）源于材料與工藝的對(duì)稱性缺陷，對(duì)多層堆疊和封裝...
探索微觀世界的“度量衡”：顯微測(cè)量?jī)x器解析
2025-05-23 在微觀世界的探索之旅中，精準(zhǔn)測(cè)量材料如同在錯(cuò)綜復(fù)雜的迷宮中尋找出口，是現(xiàn)代制造業(yè)和科研領(lǐng)域的關(guān)鍵任務(wù)。臺(tái)階儀、光學(xué)輪廓儀和共聚焦顯微鏡，這些看似冰冷的儀器設(shè)備，實(shí)則是微觀世界的“度量衡”，憑借其技術(shù)與性能，為我們解鎖微觀世界的厚度奧秘。NanoStep臺(tái)階儀：納米世界的“繡花針”想象用繡花針在豆腐表面畫地圖！臺(tái)階儀的金剛石探針僅有2微米（相當(dāng)于蜘蛛絲粗細(xì)），具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率。-獨(dú)門絕技：磁吸式探針3秒快速更換，像換手機(jī)殼一樣方便；-硬核性能：從半導(dǎo)體芯片的...
掃描電鏡：打開微觀世界的“超維相機(jī)“，科學(xué)家如何用它破解納米謎題？
2025-05-23 當(dāng)你用手機(jī)拍攝一朵花的微距照片時(shí)，放大100倍已足夠驚艷。但如果告訴你，科學(xué)家手中的"相機(jī)"能將物體放大百萬倍，連病毒表面的蛋白突觸都清晰可見，你是否會(huì)好奇這背后的黑科技？這把打開微觀宇宙的鑰匙，正是掃描電子顯微鏡（SEM）。SEM的"超能力"從何而來？傳統(tǒng)顯微鏡受限于可見光波長(zhǎng)，放大極限止步于200納米。而掃描電鏡利用高能電子束作為"探針"，通過電磁透鏡操控電子軌跡，突破衍射極限，分辨率可達(dá)1納米以下。CEM3000掃描電鏡桌面化設(shè)計(jì)讓實(shí)驗(yàn)室“去中心化”。其70000倍成像...
精度不夠？PLR3000光纖激光尺：0.2ppm誤差解鎖微米級(jí)制造
2025-05-23 當(dāng)“精度焦慮”成為制造業(yè)的隱形門檻：在半導(dǎo)體光刻中，1nm偏差可能導(dǎo)致整片晶圓報(bào)廢；在精密機(jī)床加工中，熱變形讓傳統(tǒng)測(cè)量工具“失靈”……“高精度、高穩(wěn)定、抗干擾”——工業(yè)超精密制造的三大痛點(diǎn)，如何破局？PLR3000系列光纖激光尺基于激光干涉測(cè)量原理，具有更加精確的柵距和更高的分辨率，同時(shí)其熱源隔離設(shè)計(jì)，保證了更高的穩(wěn)定性，同時(shí)具有安裝快捷，易于準(zhǔn)直等特點(diǎn)，在微電子、微機(jī)械、微光學(xué)等現(xiàn)代超精密加工制造、光刻技術(shù)等高科技領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。核心優(yōu)勢(shì)1、高精度分辨率10nm（可拓展），線...

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