臺式掃描電鏡操作簡便、成本較低,適用于材料的常規分析與質量控制。在材料生產企業中,易用高效掃描電鏡用于快速檢測原材料的顆粒形貌、尺寸分布,以及產品表面的缺陷篩查等,為生產過程提供及時反饋。
更新時間:2025-11-19
產品型號:CEM3000
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VT6000系列3D輪廓尺寸共聚焦顯微鏡主要用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量,具備表征微觀3D形貌的輪廓尺寸及粗糙度測量功能;以及2)二維平面輪廓尺寸的影像測量功能,可進行長度、角度、半徑等尺寸測量。
更新時間:2025-11-17
產品型號:VT6100
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SuperViewW工業表面3D檢測白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時間:2025-11-17
產品型號:SuperViewW1
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中圖儀器國產電鏡標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統,能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實現微觀的形貌和元素分析等。
更新時間:2025-11-17
產品型號:CEM3000
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中圖儀器高分辨率sem掃描電鏡品牌具有空間自由+高效精準+定制適配+可靠保障的特點,能夠解決檢測場地受限、操作復雜拖慢進度、振動環境下數據不準測量痛點。標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統,能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實現微觀的形貌和元素分析等。
更新時間:2025-11-13
產品型號:CEM3000
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SuperView W1系列納米級白光干涉三維形貌儀以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標準參數,一站式解決超精密測量精度不足、多材質適配難、批量檢測效率低等測量難題。應用覆蓋半導體、3C電子等多行業場景,數據驅動檢測,賦能精密制造升級。
更新時間:2025-11-11
產品型號:SuperViewW1
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