




產品簡介
PLR3000高精度位置反饋激光干涉尺分辨率可達10nm,線性精度高達0.2ppm,一站式解決高要求場景下的位置檢測難題,為超精密加工、微電子制造、航空航天等領域打造“精準+高效+靈活"的測量體驗。
中圖儀器PLR3000高精度位置反饋激光干涉尺分辨率可達10nm,線性精度高達0.2ppm,一站式解決高要求場景下的位置檢測難題,為超精密加工、微電子制造、航空航天等領域打造“精準+高效+靈活"的測量體驗。

1. 納米級信號輸出:10nm高分辨率(支持外部拓展),正交數字/1Vpp正余弦信號雙輸出,適配各類控制器;
2. 全環境自適應:一體化環境氣象站,實時補償環境參數對測量的影響,數據長期可靠;
3. 靈活安裝設計:激光主機與探頭分離,3m鎧裝光纖連接,遠離熱源干擾,狹小空間也能便捷安裝;
4. 多維度測量支持:單軸/雙軸/三軸自由配置,搭配多種干涉探頭,輕松實現多自由度測量;
5. 雙重使用模式:PLR3000高精度位置反饋激光干涉尺既可作為激光干涉儀獨立測量,也可接入系統實現閉環位置反饋控制;
1. 精度碾壓傳統方案:相比鋼帶尺/玻璃光柵,柵距更精準、分辨率更高,環境補償技術進一步保障數據穩定性;
2. 定制化適配能力:支持量程拓展、探頭選配、多通道輸出,根據客戶生產場景量身定制方案;
3. 降本增效屬性:體積小巧降低阿貝誤差,安裝快捷減少調試成本,動態測量能力適配高速生產線;
4. 全周期可靠保障:激光校準認證加持,數據可追溯,滿足工業生產合規要求;
1. 半導體制造:光刻機晶圓精準定位、精密工件臺閉環反饋,助力芯片制造良率提升;
2. 航空航天:發動機葉片形變檢測、高精度裝配校準,保障核心部件可靠性;
3. 精密加工:數控機床多軸聯動位置反饋、微機械元件測量,提升加工精度與效率;
4. 科研領域:光學平臺穩定性監測、超精密實驗設備控制,支撐前沿研究數據精準度;

注:產品參數將隨技術迭代優化,相關內容可能實時更新,恕不另行通知,敬請諒解。
如需了解參數細節、合作政策或獲取樣品測試,歡迎聯系中圖儀器,中圖專業團隊為你賦能生產升級!